Технические характеристики S40Exp (демо) Большой ЖК-монитор с диагональю 21,5” 4 активных порта для подключения датчиков, 1 паркинговый порт Дополнительная сенсорная панель управления Новая технология формирования ультразвукового луча C-Field Beam «Тонкий луч» Монокристальные датчики Датчики высокой плотности Режимы сканирования: Режимы В, М, В/М, В/В, 4В Режим тканевой гармоники высокой четкости Изменение масштаба изображения в режимах реального времени и стоп-кадра Режим ультразвуковой томографии Режим трапецеидального сканирования на линейных датчиках Технология подавления спекл-шума MicroScan Режим цветового допплеровского картирования Режим энергетического допплеровского картирования Режим направленного энергетического допплеровского картирования Режим импульсно-волнового допплера Режим постоянно-волнового допплера Режим цветового тканевого допплера Режим импульсного тканевого допплера Дуплексный, триплексный режимы Анатомический М-режим Цветной М-режим Режим трехмерной реконструкции 3D Режим 4D Режим панорамного сканирования Режим компрессионной соноэластографии с количественной оценкой (опция) Режим СТРЕССЭХО (опция) Режим ультразвукового сканирования с применением контрастных веществ